TessentScanandATPG用户手册2019年3月版分享

1. 适用场景

Tessent Scan and ATPG用户手册2019年3月版是一份针对集成电路测试领域的权威文档，特别适用于以下场景：

• 自动测试模式生成（ATPG）：帮助工程师快速生成高效的测试模式，提升芯片测试覆盖率。
• 扫描链设计与优化：为扫描链的插入、优化和验证提供详细指导。
• 故障模拟与分析：支持多种故障模型的模拟与分析，助力提升测试质量。
• DFT（可测试性设计）流程：为DFT工程师提供完整的流程参考，减少设计迭代时间。

2. 适配系统与环境配置要求

为了充分发挥Tessent Scan and ATPG的功能，用户需确保以下系统与环境配置：

• 操作系统：支持Linux和Windows平台，推荐使用64位系统。
• 硬件要求：建议配置至少16GB内存及多核处理器，以应对大规模设计的处理需求。
• 软件依赖：需安装Tessent Shell或其他兼容的EDA工具，版本需与手册中提到的2019.1或2019.2保持一致。
• 设计文件格式：支持Verilog、VHDL等常见硬件描述语言。

3. 资源使用教程

手册中提供了丰富的教程内容，帮助用户快速上手：

1. 基础流程：从设计导入到测试模式生成的全流程操作指南。
2. 高级功能：包括时序感知ATPG、压缩测试模式生成等高级功能的详细说明。
3. 脚本示例：提供TCL脚本示例，方便用户自动化操作。
4. 调试技巧：针对常见问题的调试方法，帮助用户快速定位并解决问题。

4. 常见问题及解决办法

以下是一些用户在使用过程中可能遇到的问题及解决方案：

• 测试覆盖率低：检查设计中的不可测路径或时钟域交叉问题，优化测试约束。
• ATPG失败：确认设计中的扫描链完整性，检查时钟和复位信号配置。
• 模式仿真不匹配：检查时序约束是否合理，确保仿真环境与ATPG环境一致。
• 工具性能瓶颈：优化设计分区，减少单次处理的数据量。

该手册是Tessent Scan and ATPG用户的必备参考资料，无论是新手还是资深工程师，都能从中获得实用的技术指导。