Tessent Scan and ATPG用户手册最新版本

适用场景

Tessent Scan and ATPG用户手册是半导体测试领域的权威技术文档，主要面向集成电路设计工程师、测试工程师和DFT（设计可测试性）专业人员。该手册适用于以下场景：

• 自动测试模式生成（ATPG）：为数字集成电路生成高质量的测试模式，检测制造缺陷
• 扫描链插入：在设计中插入扫描链结构，提高电路的可测试性
• 故障模型分析：支持多种故障模型，包括固定故障、转换故障、路径延迟故障等
• 时序感知测试：生成能够检测小延迟缺陷的测试模式
• 汽车级测试：满足ISO 26262功能安全标准的测试要求
• 复杂SoC测试：支持分层DFT流程，减少测试时间和数据量

适配系统与环境配置要求

硬件要求

• 处理器：多核64位处理器，推荐8核或以上
• 内存：至少16GB RAM，大型设计建议32GB或更多
• 存储：高速硬盘空间，建议SSD存储
• 操作系统：支持Linux和Unix平台

软件要求

• 操作系统：支持主流Linux发行版（Red Hat、CentOS、Ubuntu等）
• EDA工具集成：与主流综合工具和仿真器兼容
• 许可证管理：需要有效的Tessent产品许可证
• 依赖库：需要安装必要的系统库和运行时环境

环境配置

• 路径设置：正确设置Tessent工具路径和环境变量
• 许可证配置：配置FlexLM或其他许可证服务器
• 设计文件准备：需要门级网表、约束文件和库文件

资源使用教程

基本工作流程

1. 环境初始化：启动Tessent Shell，设置工作目录和日志文件
2. 设计读取：读入门级网表文件和相关约束
3. 扫描链配置：定义扫描链结构和时钟域
4. DRC检查：运行设计规则检查，确保设计可测试性
5. 测试模式生成：使用ATPG引擎生成测试模式
6. 模式验证：通过仿真验证生成的测试模式
7. 结果分析：分析测试覆盖率和故障检测能力

关键命令示例

# 启动Tessent Shell
tessent -shell

# 设置设计上下文
set_context patterns -scan

# 读取设计文件
read_verilog design.v
read_cell_library library.lib

# 运行DRC检查
run_drc

# 生成测试模式
create_patterns -scan

高级功能使用

• 时序感知ATPG：使用-time选项生成时序敏感的测试模式
• 分层测试：支持大型设计的层次化测试方法
• 诊断功能：提供详细的故障诊断和定位能力
• 自定义故障模型：支持用户定义的特殊故障模型

常见问题及解决办法

安装与配置问题

问题1：许可证无法识别

• 解决方法：检查许可证服务器状态，确认网络连接正常，验证许可证文件有效性

问题2：工具启动失败

• 解决方法：检查环境变量设置，确认依赖库已正确安装

设计处理问题

问题1：DRC检查失败

• 解决方法：检查设计中的时钟结构，确保同步设计规则，修复异步路径

问题2：测试覆盖率低

• 解决方法：分析未检测故障，添加测试点，优化扫描链结构

问题3：模式生成时间过长

• 解决方法：优化设计分区，使用并行处理，调整ATPG参数

仿真验证问题

问题1：仿真不匹配

• 解决方法：检查时序约束，验证时钟定义，确认测试协议正确性

问题2：模式文件格式错误

• 解决方法：验证STIL文件语法，检查端口映射一致性

性能优化建议

• 内存管理：对于大型设计，增加内存分配，使用64位版本
• 并行处理：启用多线程处理，提高ATPG效率
• 文件管理：使用压缩格式存储测试模式，减少磁盘空间占用

技术支持资源

• 查阅用户手册中的故障排除章节
• 参考在线知识库和社区论坛
• 联系技术支持获取专业帮助

Tessent Scan and ATPG用户手册提供了全面而详细的技术指导，是进行高质量集成电路测试的必备参考资料。通过熟练掌握手册内容，工程师能够有效提升测试效率和质量，确保芯片产品的可靠性。